CT分析儀是電流互感器準(zhǔn)確度現(xiàn)場(chǎng)檢定的*儀器。傳統(tǒng)電流互感器測(cè)試方法，主要為測(cè)差法，由于原理上的局限，使得電流互感器的現(xiàn)場(chǎng)檢定極為不便。本文設(shè)計(jì)研制的CT分析儀采用新的間接測(cè)試方法—低壓法，它是通過測(cè)量 CT 的內(nèi)部參數(shù)來獲取電流互感器的比差和角差。儀器按照智能化的設(shè)計(jì)方法，結(jié)合數(shù)字采樣技術(shù)，以DSP微處理器為核心，采用先進(jìn)的數(shù)字信號(hào)處理方法，僅用一臺(tái)儀器即可實(shí)現(xiàn)電流互感器的現(xiàn)場(chǎng)檢定，有效的解決了電流互感器現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的難題。1 引言電流互感器是電力系統(tǒng)中較重要的高壓設(shè)備之一，它被廣泛用于電力系統(tǒng)的電流測(cè)量和繼電保護(hù)中，在正常運(yùn)行情況下，電流互感器能夠保證所在電氣回路電流量的準(zhǔn)確傳變。但是，由于電流互感器主要由非線性的電磁元件組成，非線性元件會(huì)對(duì)互感器的暫態(tài)響應(yīng)特性產(chǎn)生不良影響，甚至出現(xiàn)飽和問題致使電流互感器的二次側(cè)無法如實(shí)反映一次側(cè)電流的變化情況。因此對(duì)電流互感器的暫態(tài)特性和剩磁進(jìn)行分析確保其狀態(tài)和準(zhǔn)確度是保證電力系統(tǒng)安全，可靠，運(yùn)行的重要環(huán)節(jié)。

CT分析儀是對(duì)電流互感器狀態(tài)和準(zhǔn)確度進(jìn)行校驗(yàn)的*儀器。早期的CT分析儀是比較式的，即將標(biāo)準(zhǔn)和被檢互感器的二次電流分別輸入儀器，通過儀器內(nèi)部的電阻元件轉(zhuǎn)換為名義值相同的電壓，再減出二者電壓之相量差，折算為被檢互感器相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)互感器的比值差和相位差。這種直接比較式校驗(yàn)儀，由于電阻元件參加轉(zhuǎn)換，其誤差就是校驗(yàn)儀的測(cè)量誤差，因此這種校驗(yàn)儀只能用來檢定比電阻元件準(zhǔn)確度低一個(gè)數(shù)量級(jí)的0.1級(jí)以下的低精度互感器。

后來CT分析儀發(fā)展為測(cè)差式，就是將標(biāo)準(zhǔn)和被?；ジ衅鞯亩坞娏髦钶斎敕治鰞x內(nèi)部進(jìn)行測(cè)量，儀器內(nèi)部元件的誤差，僅是儀器讀數(shù)的誤差，也就是互感器誤差的誤差。這樣的分析儀就能用來檢定高精度互感器【1】。按照早期的測(cè)試方法檢定電流互感器需要比被檢互感器高兩個(gè)等級(jí)或以上的標(biāo)準(zhǔn)電流互感器、互感器分析儀、電流負(fù)載箱和相應(yīng)的升流設(shè)備，由于現(xiàn)場(chǎng)使用的電流較大，通常一套標(biāo)稱2000A以下設(shè)備的總重量不低于200kg，使用非常不方便;另外，現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)需要線路停電，由于設(shè)備龐大，接線時(shí)間很長(zhǎng)，要求停電的時(shí)間長(zhǎng)，對(duì)供電系統(tǒng)的影響比較大;還有些電流互感器電流太大，需要的大電流導(dǎo)線又粗又長(zhǎng)，在現(xiàn)場(chǎng)需要吊車的配合才能接線，即使這樣，也不一定能升到額定電流。因此，目前電流互感器的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)只是對(duì)部分電流互感器而言。在許多場(chǎng)合，應(yīng)用傳統(tǒng)的電流互感器檢定方法困難重重【2】。鑒于早期的電流互感器檢定方法已經(jīng)不能適應(yīng)電流互感器現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的需要，本文設(shè)計(jì)研制了一種基于低壓原理CT分析儀。主要應(yīng)用于電流互感器的二次時(shí)間常數(shù)Ts、拐點(diǎn)、復(fù)合誤差、剩磁系數(shù)、暫態(tài)特性(TP級(jí)CT)等參數(shù)測(cè)試。2 分析儀測(cè)試原理2.1 直接法原理早期的CT校驗(yàn)采用直接比較法【3】，如圖1所示，校驗(yàn)時(shí)要求將電流zui大升到額定一次電流的120%，標(biāo)準(zhǔn)CT與被試互感器進(jìn)行比較，通過互感器校驗(yàn)儀測(cè)量誤差。該方法在校驗(yàn)特大CT、GIS中的CT時(shí)存在的主要問題是：由于電流大或一次回路太長(zhǎng)，校驗(yàn)時(shí)升流設(shè)備很難滿足要求。圖1 直接比較法校驗(yàn)儀原理圖2.2 測(cè)差法原理CT校驗(yàn)儀發(fā)展為測(cè)差式【4】