互感器綜合測(cè)試儀廠家傳統(tǒng)電磁性CT主要分為保護(hù)類(lèi)CT和計(jì)量類(lèi)CT。保護(hù)類(lèi)CT主要測(cè)試其伏安特性、10%誤差曲線、和變比、極性等；計(jì)量類(lèi)CT主要測(cè)試其變比、極性、比差、角差以及在各種一次電流、各種二次負(fù)荷時(shí)的比差、角差等指標(biāo)。
一、傳統(tǒng)的工頻電壓電流法測(cè)試CT伏安特性和變比的方法
國(guó)內(nèi)傳統(tǒng)的保護(hù)CT伏安特性的測(cè)試方法主要是手動(dòng)調(diào)壓測(cè)量方式，測(cè)試原理見(jiàn)下圖。采用手動(dòng)調(diào)節(jié)的自耦升壓調(diào)壓器輸出電壓，加到CT付方，用普通電壓、電流表進(jìn)行讀數(shù)。兩人操作，一人操作調(diào)壓器，另一人讀數(shù)。當(dāng)手調(diào)升壓器到某一數(shù)值時(shí)同時(shí)讀取電壓、電流數(shù)據(jù)，然后手工描繪伏安特性曲線。
變比測(cè)量原理見(jiàn)下圖。通過(guò)手動(dòng)調(diào)整調(diào)壓器輸出電壓通過(guò)升流器變換成大電流加到CT原方，測(cè)量付方電流，計(jì)算原付方電流之比，即可計(jì)算變比值。
傳統(tǒng)方法的主要缺點(diǎn)是接線復(fù)雜，耗費(fèi)大量人工，速度慢，測(cè)量精度差，而且容意出錯(cuò)。測(cè)試伏安特性時(shí)有時(shí)需要加到高達(dá)2000V電壓，因而人工操作安全性極差。
傳統(tǒng)方法顯而易見(jiàn)非常落后，亟待改進(jìn)。
二、對(duì)CT的測(cè)試方法以及測(cè)試儀器主要經(jīng)歷了三個(gè)階段的變化
1、*代儀器：半自動(dòng)(手動(dòng)調(diào)壓、自動(dòng)測(cè)量)型CT伏安特性
基于傳統(tǒng)直接測(cè)量方法的基本原理，開(kāi)發(fā)的一種數(shù)字記錄方法的測(cè)量裝置。將手調(diào)型調(diào)壓器和數(shù)字電壓電流測(cè)量部分以及單片機(jī)電路裝在同一裝置內(nèi)，手動(dòng)調(diào)節(jié)升電壓，單片機(jī)記錄數(shù)據(jù)，描繪伏安特性曲線。這種方法比全手動(dòng)測(cè)試方法有了一點(diǎn)技術(shù)進(jìn)步，但操作不方便，安全性和可靠型仍然不高。
互感器綜合測(cè)試儀主要缺點(diǎn)：
●人工操作，速度慢
●測(cè)量精度差不高
●由于人工直接調(diào)節(jié)，操作安全性極差
●直接產(chǎn)生大電壓電流進(jìn)行測(cè)量，采用大調(diào)壓升壓器和升流器，因而笨拙粗重。
2、第二代儀器：全自動(dòng)型，自動(dòng)升壓法測(cè)試CT伏安特性，自動(dòng)升流法測(cè)試CT變比極性
微處理器控制的全自動(dòng)型測(cè)試裝置。內(nèi)置步進(jìn)電機(jī)控制的全自動(dòng)升壓器產(chǎn)生電壓，自動(dòng)測(cè)量、描繪伏安特性曲線，計(jì)算10%誤差曲線；內(nèi)置自動(dòng)升流器測(cè)量CT變比、極性。測(cè)試原理見(jiàn)下圖。
主要特點(diǎn)：
●全自動(dòng)測(cè)試：可以自動(dòng)完成對(duì)CT的伏安特性、變比、極性、二次負(fù)載、10%誤差曲線的測(cè)試，簡(jiǎn)化了試驗(yàn)接線，測(cè)試效率高。
●較高精度測(cè)量：消除人工讀數(shù)及手動(dòng)處理所帶來(lái)的測(cè)量誤差。
●安全性高：接線簡(jiǎn)單，測(cè)試過(guò)程全自動(dòng)，不需人工接觸，保證很高的安全性。
●測(cè)量結(jié)果的自動(dòng)處理：實(shí)時(shí)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)并描繪曲線，計(jì)算拐點(diǎn)，自動(dòng)存儲(chǔ)和打印，上傳電腦存檔等。
主要缺點(diǎn)：
●仍屬于工頻直接測(cè)量法，需要產(chǎn)生高電壓和大電流進(jìn)行測(cè)試
●由于使用大調(diào)壓升壓器和升流器，體積重量大
●由于需測(cè)量的電壓和電流范圍寬，因而測(cè)量精度無(wú)法做到很高，因此只能用來(lái)測(cè)試保護(hù)型CT，無(wú)法測(cè)試測(cè)量型CT
典型代表：
3、第三代儀器： 低頻法測(cè)試伏安特性，電壓法測(cè)試變比和極性，可以涵蓋保護(hù)CT和計(jì)量CT的完整通用測(cè)試
低頻法測(cè)試伏安特性的原理：在CT的勵(lì)磁電感相同的情況下，勵(lì)磁阻抗值與頻率成正比。因此，要使勵(lì)磁電感達(dá)到相同飽和，所施加電壓的頻率越低則電壓的幅值越低，這就是低頻法測(cè)試伏安特性的基本原理。低頻法測(cè)量可以降低所加電壓幅值(即降低所加電壓的功率)，從而實(shí)現(xiàn)體積小重量輕，并且測(cè)量精度大大提高，既可用于保護(hù)CT的伏安特性也可用于計(jì)量CT的比差角差測(cè)量。該法可以實(shí)現(xiàn)對(duì)所有CT的全面完整測(cè)試。
電壓法測(cè)量變比的原理：在CT二次繞組上施加交流電壓，在原方將會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電壓，二次繞組鐵心上的交流電壓與一次側(cè)感應(yīng)電壓幅值之比理論上等于匝比，與在一次側(cè)通大電流的直接法相比，這種變比測(cè)試方法不需要大電流，具有測(cè)試設(shè)備容量小、安全可靠等特點(diǎn)。這種CT變比測(cè)試方法也被稱(chēng)為間接法。
互感器綜合測(cè)試儀主要特點(diǎn)：
●功能全面：可用于各種型號(hào)CT(含TP類(lèi))的伏安特性、10%誤差曲線、變比、相位、極性、二次繞組電阻、二次回路負(fù)荷、比差以及角差以及在不同工作電流、不同負(fù)載情況下的比差、角差等穩(wěn)態(tài)或暫態(tài)特性測(cè)試
●測(cè)量校核各種型號(hào)的CT，包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級(jí)暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到30KV的CT、變壓器套管CT
●覆蓋從保護(hù)CT、計(jì)量CT的全面通用測(cè)試，包括TP級(jí)暫態(tài)CT、飽和電壓高達(dá)數(shù)萬(wàn)伏的CT、變壓器套管CT等。這是工頻直接法*的技術(shù)和應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
●高精度測(cè)量：由于測(cè)量電壓范圍小，可以實(shí)現(xiàn)高測(cè)量精度，精度達(dá)0.05%
●僅需輸出較小電壓和功率，因而體積小，重量輕，輕小便攜
●測(cè)量結(jié)果的自動(dòng)處理：實(shí)時(shí)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)并描繪曲線，自動(dòng)存儲(chǔ)和打印。并可上傳電腦管理和存檔。
主要缺點(diǎn)：
●由于采用直接法測(cè)量，不輸出大電流，因而不能作為大電流源順便供現(xiàn)場(chǎng)輸出大電流使用
有些類(lèi)型的儀器并無(wú)高精度測(cè)量功能，因而主要只能用于保護(hù)CT的伏安特性和變比極性等的較簡(jiǎn)單測(cè)試，無(wú)法用于比差、角差測(cè)試，更無(wú)法用于計(jì)量CT的測(cè)試
典型代表： CT 參數(shù)分析儀
三、變頻測(cè)量法的基本原理
CT伏安特性測(cè)量的原理電路如下圖：CT一次側(cè)開(kāi)路，從二次側(cè)施加電壓，測(cè)量所加電壓V與輸入電流I的關(guān)系曲線。此曲線近似CT的勵(lì)磁電勢(shì)E與勵(lì)磁電流I的關(guān)系曲線。
設(shè)CT勵(lì)磁繞組在某一勵(lì)磁電流I時(shí)的激磁電感為L(zhǎng)，激磁阻抗為Z，則：
V = I·Z
電感L與阻抗Z之間具有下述關(guān)系：
Z = ω·L = 2 π f L
則：V= I·2 π f L
由公式中可見(jiàn)在某一激磁電感L時(shí)所加電壓V與頻率f成正比關(guān)系。
假設(shè)當(dāng)f = 50hz時(shí)，為達(dá)到勵(lì)磁電流Ix，所需施加的電壓Vx為2000V
Vx = I·2 π f L= Ix·2 π f L = 2000V，
若施加不同頻率：
f = 50hz，Vx = 2000V
f = 5hz， Vx ≌ 200V
f = 0.5hz，Vx ≌ 20V
由此可見(jiàn)需要使CT進(jìn)入相同飽和程度，施加較低頻率信號(hào)所需電壓可以大幅度降低這就是變頻法的基本原理。
在此必須嚴(yán)格注意，所需電壓并非與頻率呈線性比例關(guān)系，并非隨著頻率等比例降低，需要嚴(yán)格按照互感器的數(shù)學(xué)模型進(jìn)行完整的理論計(jì)算。
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